CST520 복수 전극 배열 전기 화학 매퍼

CST520 멀티 일렉트로드 배열 전기 화학 지도

고해상도 AD 변환기와 제로 저항 ampermeter 기술을 기반으로, CST520 Multi-electrode Array Electrochemical Mapper can quickly map the galvanic current and OCP distribution on an arrayed multi-electrode and facilitate the study of non-uniform corrosion of metal samples under deposits또한, 그것은 여러 전극 센서에 임피던스 분포를 지도 CS 포텐시오스타트와 함께 작동 할 수 있습니다.

전자의 표면에 잠재력과 전류 분포를 순환 스캔하여,CST520 다전자 배열 전기화학 매퍼는 코팅 아래의 맨 금속 또는 금속의 지역 부식 분포 또는 비일률적인 전기화학 해소 과정을 특징 지을 수 있습니다.

CST520 멀티 일렉트로드 어레이 전기 화학 매퍼는 특정 전극의 전극 잠재력과 단전류를 정확하게 측정할 수 있습니다.그것은 특히 불안정 상태에서 금속의 자발적 부식 연구에 적합합니다..

적용

이 도구는 실험실에서 금속 표면의 지역 부식 분포 특성을 연구하기에 적합합니다.그리고 지역 경색의 발생과 발전의 메커니즘 연구그것은 금속 비 일률적 인 부식 행동을 연구하는 데 널리 사용될 수 있습니다.

작동 원칙

CST520 멀티 일렉트로드 배열 전기 화학 시스템은 두 부분으로 구성됩니다: 멀티 일렉트로드 인터페이스와 전기 화학 테스트 시스템.그것은 단지 전극 잠재력과 단전류를 테스트 할 수 없습니다, 또한 EIS 및 양극화 곡선을 측정하여 재료의 평가 방법을 크게 풍부하게합니다.

다중 전극표면주로 RS485 통신 회로, IO 확장 회로, 10x10 릴레이 매트릭스 회로, MCU 회로 등으로 구성되어 있습니다. 최대 100채널 배열 전극 스위칭을 지원합니다.100Hz까지의 스위치 속도.

전기 화학 지도배열 전극 테스트를 수행 할 수있을뿐만 아니라 부식 측정을위한 모든 기술을 갖춘 독립적 인 잠재역 / 전기 화학 작업장 역할을 할 수 있습니다.오픈 서킷 포텐셜 (OCP), 편광 곡선 (Tafel), 선형 편광 (LPR), EIS, MS 곡선, 전기 화학 소음 (ECN) 등

전력 및 전류 스캔

CST520는 실시간 잠재력/전류 분포 디스플레이를 통해 표면의 순환적 잠재력/전류 스캔 또는 단일 전극의 잠재력/전류 대 시간 스캔을 달성할 수 있다.데이터를 원본으로 가져오면 3D 그래프를 볼 수 있습니다..

위의 그림에서 볼 수 있듯이, 잠재력/전류 분포를 보여줍니다.부정 전류는 또한 같은 영역에서 나타납니다 현재 분포 다이어그램음류는 전극 전류를 의미하며, 전극 표면의 이 세 영역에서 더 심한 부식 현상이 나타납니다.

10 ́10 와이어 빔 전극에 임페던스 모듈 분포

스펙CST520 멀티 일렉트로드 배열 전기 화학 지도

전력 범위: ±10V, ±5V, ±2.5V

잠재 제어 정확도: 전체 규모 ± 1mV의 0.1%

전류 범위:2nA~2 A,10 범위

최대 출력 전류: ±2A

전류 제어 정확도: 전체 규모의 0.1%

채널 전환 속도: 100Hz

확장 인터페이스: RS485 115200bps

전원 공급: AC 220V

표준 공급:

CST520 멀티 일렉트로드 배열 전기 화학 지도 기기 * 1 세트

CS5000X 다전자 인터페이스*1 세트

소프트웨어 키트*1

확장 전극 케이블* 3 ((WE/SE/AGND ((WE99))

참조 전극 입력 케이블*1

카운터 전극 입력 케이블 *1

DB9 통신 케이블 *1

Q235 탄소 강철 10*10 배열 전극 *1

전극 케이블 *2

전원 케이블 *2

USB 케이블*1

가짜 셀 *1

판매 후 서비스

보증 기간: 3년

무료 소프트웨어 업그레이드 서비스

보증 기간 내에 무료 수리 서비스를 제공